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VHRE

El elipsómetro de alta resolución ha sido construido íntegramente en el Laboratorio de Superficies de la UC; permite obtener propiedades ópticas de películas delgadas por medio de la medición en la rotación de la polarización del láser incidente sobre la muestra.
El elipsómetro tiene la configuración PCSA (polarizador, compensador, muestra, analizador) y se trabaja con el método de señal nula, la que se logra mediante un circuito de retroalimentación.